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技術(shù)支持

測(cè)厚儀的測(cè)試原理和使用注意事項(xiàng)
更新時(shí)間:2023-02-16   點(diǎn)擊次數(shù):566次
   測(cè)厚儀適用于各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量,分辨率達(dá)0.1um,廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。
 
  測(cè)試原理
  測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)試原理,截取一定尺寸試樣,測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。
 
  測(cè)厚儀的使用注意事項(xiàng):
  1、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
  2、在測(cè)量的時(shí)候要注意,側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
  3、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
  4、在測(cè)量的時(shí)候要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
  5、測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
  6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
  8、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

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